Inicjatywa Doskonałości - Uczelnia Badawcza
Kontaktul. Gagarina 7, 87-100 Toruń
tel.: +48 56 611-43-02
fax: +48 56 611-45-26
e-mail: wydzial@chem.umk.pl
zdjęcie nagłówkowe

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Pracownia dysponuje mikroskopem ze skanującą sondą SPM produkcji Veeco (Digital Instrument). W skład systemu wchodzą: kontroler NanoScope IIIa i Quadrex, mikroskop MultiMode, skaner typu E z maksymalnym obszarem skanowania 10x10x2,5µm.

Zestaw pracuje jako mikroskop sił atomowych AFM oraz skaningowy mikroskop tunelowy STM z atomową rozdzielczością.

Dostępne techniki pracy:

  • STM skaningowy mikroskop tunelowy,
  • Contact Mode, mikroskop sił atomowych w trybie kontaktowym,
  • Tapping Mode, mikroskop sił atomowych w trybie przerywanego kontaktu,
  • TRmode, mikroskssp sił atomowych mierzący siły poprzeczne,
  • EFM, mikroskop sił atomowych do pomiaru potencjału elektrycznego,
  • FM, mikroskop sił atomowych z modulacją siły.

Wyposażenie dodatkowe:

  • uchwyt do pracy w cieczach,
  • cylinder osłony środowiskowej,
  • zestaw do pomiaru nanozarysowań i nanowgnieceń.

Ewentualne opłaty za wykonanie analiz są uzgadniane indywidualnie w zależności od: cech próbki, liczby powiększeń, konieczności specjalnego przygotowania próbki do analizy itp.

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z:
mgr Mariolą Krawitowską
tel: (56) 611-48-32
e-mail: m.krawitowska@umk.pl

Zlecenie na analizę dla studentów i pracowników Wydziału Chemii UMK:

Zlecenie-AFM (112 KB)