Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM-EDX)

Transmisyjny mikroskop elektronowy (ang. transmission electron microscope – TEM) produkcji FEI Europe, model Tecnai F20 X-Twin z 2011 roku (linia mikroskopów Tecnai G²). Model Tecnai posiada atomową zdolność rozdzielczą i jest mikroskopem o wszechstronnym zastosowaniu w badaniach materiałów.

Podstawowe parametry mikroskopu:

• zakres napięć przyspieszających: 20-200 kV,
• działo z emisją polową (Schottky FEG),
• punktowa zdolność rozdzielcza: 0,25 nm,
• liniowa zdolność rozdzielcza: 0,102 nm.

Techniki pracy:

• TEM (BF, DF),
• STEM (detektor HAADF),
• Dyfrakcja (technika SAED),
• Tomografia.

Typy detektorów:

• BF (Bright Field),
• DF (Dark field),
• HAADF (High Angle Annular Dark Field),
• EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometer),
• PEELS (Parallel Electron Energy Loss Spectrometer),

Wyposażenie dodatkowe:

• Urządzenie do czyszczenia plazmowego Fischione Plasma Cleaner 1020
• Ultramikrotom Leica Ultracut UC7 z łamarką do noży szklanych Leica EM KMR3
• Trymer próbek, Leica EM TXP

Obrazy analizowanej powierzchni rejestrowane są w postaci cyfrowej, co daje możliwość szybkiego przesyłania wyników analiz np. e-mailem.

Pracownia wykonuje zlecone usługi naukowo-badawcze dla pracowników Wydziału Chemii UMK oraz innych jednostek naukowych. Posiadamy bogate doświadczenie w analizach dla sektora gospodarki.
Opłaty za wykonanie analiz są uzgadniane indywidualnie w zależności od: cech próbki, liczby powiększeń, konieczności specjalnego przygotowania próbki itp.

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z:
mgr Karoliną Kulką-Kamińską
tel: (56) 611-48-32
e-mail: karolina.kulka-kaminska@umk.pl