• zakres powiększeń od 40 do 800 000 razy,
• teoretyczna rozdzielczość 3,5 nm (katoda wolframowa),
• napięcie przyspieszające od 200V do 30kV,
• masa próbki: od ułamków grama do ok. 0,5 kg,
• wymiary próbki: od ułamków mm do ok. 50mm,

• elektronów wtórnych (ang. secondary electron - SE),
• elektronów elastycznie odbitych (ang. backscattered electron - BSE),
• katodoluminescencyjny (ang. cathodoluminescence - CL).

• spektrometr rentgenowski (ang. energy dispersive X-ray spectrometer - EDX) Quantax 200 z detektorem XFlash 4010 produkcji Bruker AXS, Niemcy z 2008 roku,
• napylarka do nanoszenia nanometrycznych warstwy złota i palladu SC7620 oraz węgla CA7625, produkcji Quorum Technologies, Anglia z 2008 roku.

Obrazy analizowanej powierzchni rejestrowane są w postaci cyfrowej (np. format TIFF, o rozdzielczości 1024x768 pixeli, jedno zdjęcie zajmuje ok. 0,7 MB pamięci) i zapisywane w pamięci komputera, co daje możliwość szybkiego przesyłania wyników analiz np. e-mailem.

Pracownia wykonuje zlecone usługi naukowo-badawcze dla pracowników Wydziału Chemii UMK oraz innych jednostek naukowych. Posiadamy bogate doświ adczenie w analizach dla sektora gospodarki.
Opłaty za wykonanie analiz są uzgadniane indywidualnie w zależności od: cech próbki, liczby powiększeń, konieczności specjalnego przygotowania prób ki itp.

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z
mgr Grzegorzem Trykowskim
e-mail: sem@chem.umk.pl
tel.: +48 (56) 611 48 32

Zlecenie (pdf)