Pracownia dysponuje mikroskopem ze skanującą sondą SPM produkcji
Veeco (Digital Instrument). W skład systemu wchodzą: kontroler NanoScope
IIIa i Quadrex, mikroskop MultiMode, skaner typu E z maksymalnym
obszarem skanowania 10x10x2,5µm.
Zestaw pracuje jako mikroskop sił atomowych AFM oraz skaningowy mikroskop
tunelowy STM z atomową rozdzielczością.
Dostępne techniki pracy:
- STM skaningowy mikroskop tunelowy,
- Contact Mode, mikroskop sił atomowych w trybie kontaktowym,
- Tapping Mode, mikroskop sił atomowych w trybie przerywanego kontaktu,
- TRmode, mikroskssp sił atomowych mierzący siły poprzeczne,
- EFM, mikroskop sił atomowych do pomiaru potencjału elektrycznego,
- FM, mikroskop sił atomowych z modulacją siły.
Wyposażenie dodatkowe:
- uchwyt do pracy w cieczach,
- cylinder osłony środowiskowej,
- zestaw do pomiaru nanozarysowań i nanowgnieceń.
Ewentualne opłaty za wykonanie analiz są uzgadniane indywidualnie w zależności od:
cech próbki, liczby powiększeń, konieczności specjalnego przygotowania próbki do analizy itp.
W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z
mgr Grzegorzem Trykowskim
e-mail: afm@chem.umk.pl
tel.: +48 (56) 611 48 32
Zlecenie (pdf)
|